Kaivosteollisuus Kokonaisten kivien analysoiminen (keskeiset alkuaineet) XRF76C
SGS tarjoaa kiven kokonaisanalyysit käyttäen joko ICP-AES (ICP95A) -tekniikkaa tai röntgenfluoresenssia (XRF76C).
Kiven kokonaisanalyysissä määritetään kivinäytteen pääoksidit. Se on yhteensä noin 100 % ei-mineralisoiduissa näytteissä. Asiantuntijamme voivat auttaa valitsemaan oikean palvelun tarpeisiisi.
Fuusio - XRF on alan standardoitu näytteen valmistelutekniikka pääelementtien analysointia varten. Fuusiomenetelmää käytettäessä näyte sulatetaan yhdessä sulatteen kanssa ja näyte asetetaan lasilevylle.
| FUUSIO | KIVIEN KOKONAISANALYYSI |
|---|---|
| XRF76C | Keskeisimmät boraatin sulatetun levyn mukaan / XRF Al2O3, CaO, Cr2O3, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, Fe2O3, SiO2, TiO2, LOI Alhaisempi raportointiraja: 0,01 % |
Sulaneen levyn analyysiin voidaan lisätä lisätekijöitä.
Valitse SGS yhteistyökumppaniksesi varmistaaksesi menettelytavat, protokollat ja laboratoriokäytännöt. Tarjoamme kokemuksen ja teknologian tutkimus- ja malminetsintäohjelmiesi tueksi.